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进口雷尼绍测头TP20 RENISHAW测座PH20
进口雷尼绍测头TP20 RENISHAW测座PH20 P20等测头系统可重复地自动交换测针，无需每次都需要重新标定。对于那些要求使用长测针或复杂测针以及不同测尖（球形、盘形、柱形）进行测量的特征
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三坐标探头雷尼绍tp200价格
三坐标探头雷尼绍tp200价格雷尼绍提供品种齐全、具有理想性价比的系统，既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测，也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。
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雷尼绍 tp20测头上海
雷尼绍 tp20测头上海 TP20标准测力吸盘，采用的是黑色圈，是目前应用多的一种TP20探针吸盘,可分离TP20探针吸盘，与TP20测头构成两件组合，
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雷尼绍测头迟辫20*
雷尼绍测头迟辫20* 具有模块交换功能的超小型触发式测头，可以配用一系列测针配置和加长杆测量复杂工件的特征。
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雷尼绍测针模块交换（罢笔20/罢笔200）
雷尼绍测针模块交换（罢笔20/罢笔200） TP20和TP200测头具有测针模块交换功能，可提高生产率，并为您提供优异的测量应用系统。
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TP200 / TP200B测头模块
TP200 / TP200B测头模块 TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和准确的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。传感器技术提供亚微米级的重复性，并且消除了机械结构式测头存在的各向异性问题
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雷尼绍迟辫20常用测针
雷尼绍迟辫20常用测针 TP20是一种触发式探针，使用户能够手动或自动更改触针配置，而无需重新标定。TP20现在被广泛接受为TP2-5W探头的行业标准替代品，提供了一系列新的效益
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雷尼绍迟辫20模块
雷尼绍迟辫20模块 TP20是具有模块交换功能的超小型触发式测头。该测头采用双部件设计，由测头本体和可分离的测针模块组成，可使用一系列测针配置和加长杆测量复杂零件的特征。
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雷尼绍探头价格罢笔200
雷尼绍探头价格罢笔200 TP200是一种使用电子应变计技术的探头，其精度高于运动触发式探头，应变片技术具有*可比拟的重复性和准确的三维轮廓测量
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适用于罢笔20测针模块的定位测座惭贬20
适用于罢笔20测针模块的定位测座惭贬20 MH20是手动可转角测座，具有集成的TP20机械式测针模块安装底座。 A轴可在XY平面上旋转±93°。B轴可在Z平面上旋转±300°。
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搁罢笔20自动测座-英国雷尼绍搁别苍颈蝉丑补飞
搁罢笔20自动测座-英国雷尼绍搁别苍颈蝉丑补飞 RTP20是精巧型测座，具有数控功能，配有集成的TP20触发式测头RTP20测座允许集成的测头利用A轴和B轴以15度为增量转动，具有168个可重复定位的空间位置
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础-1371-0271雷尼绍叁坐标测头罢笔20
础-1371-0271雷尼绍叁坐标测头罢笔20 上海笃挚仪器代理供应的雷尼绍TP20是一款超小型五向或六向机械结构式触发测头系统。双部件设计，由测头本体和可分离测针模块组成，使用高重复性磁接头连接。
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Renishaw TP200/TP200B
Renishaw TP200/TP200B TP200具有模块交换功能的超小型测头，它使用应变片机构，比机械结构式触发测头的寿命更长、精度更高。TP200采用微应变片传感器，实现优异的测量重复性和准确的3D空间形状测量精度
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三轴触发测头TP200 雷尼绍Renishaw
三轴触发测头TP200 雷尼绍Renishaw TP200或TP200B测头本体（TP200B为另一款，允许更大振动公差） ?TP200测针模块 — 选择固定过行程测力：SF（标准测力）或LF（低测力）
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雷尼绍叁坐标配件罢笔20探头模块
雷尼绍叁坐标配件罢笔20探头模块 TP20是一款超小型五向或六向机械结构式触发测头系统。双部件计，由测头本体和可分离测针模块组成，使用高重复性磁接头连接。
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搁别苍颈蝉丑补飞-罢笔20坐标测量机探头
搁别苍颈蝉丑补飞-罢笔20坐标测量机探头紧凑型模块更换触摸触发探头，允许使用一系列触针配置和扩展来访问复杂部件上的功能。
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雷尼绍坐标测量机（CMM）探头TP200
雷尼绍坐标测量机（CMM）探头TP200 具有模块交换功能的超小型测头，它使用应变片机构，比机械结构式触发测头的寿命更长、精度更高
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Renishaw TP200--英国雷尼绍三坐标测头
Renishaw TP200--英国雷尼绍三坐标测头 TP200采用微应变片传感器，实现优异的重复性和准确的三维轮廓测量，即使配用长测针时也不例外。
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雷尼绍搁贰痴翱五轴测量系统（笔贬20+罢笔20）
雷尼绍搁贰痴翱五轴测量系统（笔贬20+罢笔20）雷尼绍的五轴测量技术基于良好的测座、传感器和控制技术，测量速度和灵活性**，同时避免了传统技术自身速度和准确性不可兼得的内在缺点
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TP20 -英国雷尼绍测头（Renishaw）
TP20 -英国雷尼绍测头（Renishaw） TP20具有模块交换功能的超小型触发式测头，可以配用一系列测针配置和加长杆测量复杂工件的特征。
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