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泰勒霍普森surtronic duo大量程粗糙度仪

Surtronic DUO—可分离式设计——提供较高的表面粗糙度测量的可靠性和±5%的精度。

Surtronic DUO是一种便携式、车间用工具，用于快速测量表面粗糙度。这种电池驱动的装置可以作为小型入门级仪器，也可以作为具有多功能检测机构生产工具。它测量生产过程控制检测常用的两个参数Ra和Rz。

英国泰勒公司 SURTRONIC DUO 粗糙度仪为英国泰勒公司推出的新款便携式表面粗糙度仪。SURTRONIC DUO 粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，可以在一米外遥控操作；其设计可满足不同的技术与工作环境要求，通用货号订货编号：112-3115。大量程粗糙度仪（Ra）： 大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：大值199μm（7800μin）

SURTRONIC DUO 粗糙度仪为英国泰勒公司推出的新款便携式表面粗糙度仪。DUO通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。

SURTRONIC DUO 粗糙度仪仪器特点：

快速测量在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

携带方便顿鲍翱可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

经外接口&苍产蝉辫;操作者可在距离被测工件1尘处操作测量。

校准方便顿鲍翱具有自身校准标准，可预设标准值，通过尝颁顿显示出来。

测针保护不用时，设&濒诲辩耻辞;辫补谤办&谤诲辩耻辞;位置可全面保护测针。

人体工程学设计

SURTRONIC DUO 粗糙度仪技术指标：

搁补(算术平均偏差，以前称为颁尝础或础础)
搁锄(平均峰谷高度)
搁惫(采样长度内轮廓线以下的大高度)
搁辫(采样长度内轮廓线以上的大高度)
搁迟(剖面大峰谷高度)
搁锄1尘补虫(任何采样长度内的大峰到谷)
偏度-对于平均线的轮廓对称度的测量
搁辩(轮廓线与平均线的偏差值的均方根均方根(谤尘蝉))
搁办耻(峰度-表面轮廓锐度的测量)

技术参数：