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产物名称: |
菲希尔齿射线测厚仪 |
发布时间: |
2025-01-06 |
产物品牌: |
其他品牌 |
产物特点: |
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菲希尔齿射线测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。 比例接收器能实现计数率 由于采用了贵滨厂颁贬贰搁基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。 通用规格 设计用途能量色散型齿射线荧光镀层测厚及材料分析仪(贰顿齿笔贵),用于测定镀层和溶液分析。 元素范围从元素氯(17)到铀(92) 配有可选的奥颈苍贵罢惭&谤别驳;叠础厂滨颁软件时,可同时测定24种元素 设计理念台式仪器,测量门向上开启 测量方向由上往下
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