Couloscope CMS多层镀镍电位差库仑测厚仪
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Fischer菲希尔Couloscope CMS测厚仪准确地测量范围在0.05- 40 μm ( 0.002 - 1.6 mils )之间的金属镀层。该设备可以存储上百条预先定义好的镀层/基材应用,从单镀层,例如锌在钢上,直至三镀层,例如铬层在镍层再在铜层或塑料上。Couloscope CMS STEP用来测定多层镍镀层系统中各个单个的镀层厚度以及各镀层之间的电化学电位差。在电镀工业中,对多层镍的测量变得越来越重要了,双层镍的测量已成为-种标准的操作。
Couloscope CMS多层镀镍电位差库仑测厚仪主要特性:
? 吸引人的设计,大的液晶显示器和清晰安排的键盘。
? 操作简单,菜单指引的操作提示。
? 电解区域直径从0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
? 大约100个预先定义好的应用程式适用于大多数的金属镀层,包括测量线材。
? 可用于测量Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金属
? 基材可为 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金属材料等。
测量台痴18有1个新 的测量槽设计。 | 测量台痴24允许 灵活定位小工件。 | 测量台痴26主要为简单 和平面形状的物体而设计。 |
测量原理:
厂罢贰笔罢别蝉迟是在允许腐蚀的情况下用来同时测量电位差和多层镍的镀层厚度,该方法是这个应用领域的标准。在电镀行业中,对多层镍镀层中各自层的同时的厚度和电极电位的测定变成了一个越来越重要的需求。多镀层组成为不含硫的半光亮镍层和含硫的光亮镍层。这两个镍层之间足够的电位差导致了光亮镍层优先腐蚀于半光亮镍层。这种次序也就延迟了整个镍层的穿透速度,并且给了基材相对于单镀层更好的防腐保护.
应用
COULOSCOPE® CMS STEP可以通过定位于电位-时间表中相关部分的双指针来方便地测出镀层厚度和电位差。这个图表能够外部保存或通过RS232转换到PC电脑中。Couloscope CMS STEP用来测定多层镍镀层系统中各个单个的镀层厚度以及各镀层之间的电化学电位差。