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Fischer薄膜测厚仪DualScope MP0仪器内置探头，采用磁感应和涡流方法，简单、快速、无损地测量涂层厚度。磁导率、电导率和几何形状(曲率和厚度等。)的影响相对较小。新的DUALSCOPE MP0采用了广泛认可的Fischer探针技术，这是一种小型仪器，可以在很大程度上满足您的测量需求。它测量精度高，界面友好，经久耐用。不复杂工件的现场测量尤其理想。内置探头，使用磁感应和涡流方法，可以快速和无损测量涂层厚度。DUALSCOPE MP0可自动识别铁或铝等基材，并选择合适的测量方法。可以显示重要的统计参数。由于其良好的重复性和统一的标准校准功能，该仪器在同类产物中脱颖而出。