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　　霍尔效应测厚仪主要用于用于测量非铁类材料的厚度检测，采用非破坏性的测量方式，不受材料的形状影响，快速测量形状复杂和不同大小的物体的各种位置，即使是死角及沟、槽。测量时，将一个小钢珠置于测试材料的一面，并将探头置于另一面，探头的霍尔效应传感器测量出从探头至钢珠之间的距离，即时显示出厚度读数。是利用磁场作用于载流金属导体、半导体中的载流子时，产生横向电位差的物理现象。当测厚仪电流通过金属箔片时，若在垂直于电流的方向施加磁场，则金属箔片两侧面会出现横向电位差。半导体中的霍尔效应比金属箔片中更为明显，而铁磁金属在居里温度以下将呈现的霍尔效应。

　　如果把霍尔元件集成的开关按预定位置有规律地布置在测厚仪上，当装在运动物体上的永磁体经过它时，可以从测量电路上测得脉冲信号。根据脉冲信号列可以传感出该运动物体的位移。若测出单位时间内发出的脉冲数，则可以确定其运动速度。