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　　霍尔效应测厚仪是利用磁场作用于载流金属导体、半导体中的载流子时，产生横向电位差的物理现象。当测厚仪电流通过金属箔片时，若在垂直于电流的方向施加磁场，则金属箔片两侧面会出现横向电位差。半导体中的霍尔效应比金属箔片中更为明显，而铁磁金属在居里温度以下将呈现*的霍尔效应。

　　如果把霍尔元件集成的开关按预定位置有规律地布置在测厚仪上，当装在运动物体上的永磁体经过它时，可以从测量电路上测得脉冲信号。根据脉冲信号列可以传感出该运动物体的位移。若测出单位时间内发出的脉冲数，则可以确定其运动速度。

　　根据霍尔效应测厚仪原理，人们用半导体材料制成霍尔元件，它具有对磁场敏感、结构简单、体积小、频率响应宽、输出电压变化大和使用寿命长等优点，因此，在测量、自动化、计算机和信息技术等领域得到广泛的应用。

　　霍尔效应测厚仪已被成功地应用于航空航天领域的质量控制程序中，对由复合材料及非铁性材料制成的航空航天器的各个部件进行测量。目标钢线可放入到涡轮叶片的冷却孔中，而较大的磁性目标钢珠可用于测量厚达25.4毫米的喷气式引擎部件。