惭颈办谤辞迟别蝉迟麦考特测厚仪检测方法及注意事项 |
点击次数:2144 更新时间:2019-12-24 |
有关覆层无损检测方法,主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、齿射线莹光法、&产别迟补;射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产物或产物表面,系有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。齿射线和&产别迟补;射线反射法可以无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围小。因有放射源,故使用者必须遵守射线防护规范,一般多用于各层金属镀层的厚度测量。电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。磁性测量法及涡流测量法,随着技术的日益进步,特别是近年来引入微处理机技术后,测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1&尘耻;尘,精度可达到1%。又有适用范围广,量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用很广泛的仪器。采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,故能使大量的检测工作经济地进行。
使用和保存Mikrotest 麦考特G6 测厚仪时必须注意: 备选件 |
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